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電子材料中有害重金屬Cd和Pb的分析案例

發(fā)布時(shí)間:2022-08-01 點(diǎn)擊量:1710

電子材料中有害重金屬Cd和Pb的分析案例

背景

近年來(lái),對(duì)環(huán)境問(wèn)題的關(guān)注日益增加,鎘和鉛被用作穩(wěn)定劑,特別是在塑料阻燃劑和電線電纜涂層材料中。歐盟內(nèi)部制定了 WHEE(廢棄電氣電子設(shè)備)和 RoHS(限制在電氣和電子設(shè)備中使用某些有害物質(zhì))等法規(guī),有害物質(zhì)(汞、鎘、鉛、六價(jià)鉻、PBB?PBDE) 的使用受到限制。這次,我們將介紹使用能量色散 X 射線熒光光譜儀 (OURSTEX150RoHS) 輕松進(jìn)行的低濃度 Cd/Pb 分析。

測(cè)量條件

  • 測(cè)量裝置:OURSTEX150RoHS

  • 探測(cè)器:SDD(硅漂移探測(cè)器)

  • 管電壓/電流:48kV-AUTO

測(cè)量結(jié)果

圖 1 顯示了 Cd 和 Pb 的測(cè)量曲線。樣品是在氯乙烯樹(shù)脂中添加 Cd 和 Pb 制成的糊狀物。與空白樣品相比,即使在低濃度下,33ppm Cd-Kα 和 43ppm Pb-Lα 也清楚地顯示出峰。圖 2 顯示了每個(gè)的校準(zhǔn)曲線數(shù)據(jù)。通過(guò)設(shè)置 ROI 范圍并使用具有背景減法的綜合強(qiáng)度獲得標(biāo)準(zhǔn)曲線。此外,表 1 顯示了每個(gè)測(cè)量時(shí)間的檢測(cè)下限。

電子材料中有害重金屬Cd和Pb分析結(jié)果
電子材料中有害重金屬Cd和Pb分析結(jié)果

概括

OURSTEX 150RoHS 結(jié)構(gòu)緊湊,不需要液氮或冷卻水,因此具有成本效益。另外,由于使用熒光X射線分析法,樣品處理容易,測(cè)定也容易。此外,SDD檢測(cè)器、鎢管和特殊濾光片的使用可以同時(shí)分析鎘和鉛,靈敏度高,測(cè)量時(shí)間短。該設(shè)備適用于電線包覆劑和各種塑料等電子零件中微量重元素的分析。

推薦設(shè)備

能量色散X射線熒光光譜儀“OURSTEX160RoHS"



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